基于单目结构光的温控器校准点深度测量

针对温控器校准点深度测量难度大、精度低的问题,文章提出一种基于单目结构光的微小深度测量系统。该系统首先对温控器校准点的边沿进行检测,然后采用改进的Hessian矩阵法提取结构光的中心线,通过校准点边沿获得结构光的上位点,以结构光最低点作为下位点;完成对测量系统的标定后,计算上位点和下位点的三维坐标,得到校准点深度数据。实验结果表明,改进的Hessian矩阵法能够在复杂背景下提取出结构光中心线,精度达到亚像素级。通过对温控器校准点的深度测量,平均误差在0.02 mm以内,测量精度较高。

Research on depth measurement of temperature controller calibration point based on monocular structured light