电子测试系统中VXI总线接口技术研究分析 |
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引用本文: | 熊强强,杨艳红.电子测试系统中VXI总线接口技术研究分析[J].商,2014(48):149-149. |
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作者姓名: | 熊强强 杨艳红 |
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作者单位: | 南昌理工学院 |
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摘 要: | 在众多的电子产品中,测试系统作为一种普遍使用信息化电子产品,越来越引起了人们的关注。然而,随着科学技术的不断发展,它的最重要的技术组成接口部分也发生了翻天覆地的巨大变化,本文介绍了在目前常用的VXI型总线接口技术,并且对其的性能指标进行了详尽的分析。
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关 键 词: | 测试系统 VXI 总线接口技术 性能指标 |
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