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NiosⅡ处理器在透镜中心厚度测量系统中的应用设计
作者姓名:王青松
作者单位:西安工业大学光电工程学院,西安,710032
摘    要:采用迈克尔逊干涉仪原理测量透镜中心厚度的方法已经得到了理论论证,具有较高的测量精度。本文采用硅光电池对经透镜厚度调制后的激光干涉条纹能量进行测量,设计了前置放大电路、A/D转换电路、按键电路、LED显示电路、并以FPGA为载体设计了NiosⅡ处理器,结合软件设计构成了一个以NiosⅡ处理器为核心的透镜中心厚度测量系统的数据采集,分析和显示子系统。

关 键 词:NiosⅡ  硅光电池  迈克尔逊干涉仪
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