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| 数字电路测试方法研究 | |
| 作者姓名： | 张存博 |
| 作者单位： | 西北民族大学电气工程学院,甘肃兰州,730000 |
| 摘 要： | 随着数字电路集成度和复杂度的提高,越来越多的数字电路设计采用基于IP核的设计方法,必须采用DFF技术才能解决系统芯片的测试问题.扫描技术和边界扫描技术是目前可测试性设计的主流技术,可分别用来解决芯片内部与芯片之间的可测试性问题. |
| 关 键 词： | 功能点测试 边界扫描 |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |
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