| 节省半导体测试时间成本的新方法——并发测试 |
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| 引用本文： | 凌艺春. 节省半导体测试时间成本的新方法——并发测试[J]. 企业科技与发展, 2011, 0(15) |
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| 作者姓名： | 凌艺春 |
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| 作者单位： | 广西工业职业技术学院,广西南宁,530001 |
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| 摘 要： | 半导体测试时间直接影响到整个半导体测试的成本,文章提出了一种缩短半导体测试时间的新方法——并发测试.并发测试技术可以在保证测试覆盖率的前提下显著地缩减测试时间,提高半导体测试设备硬件资源的利用率.文章分析了实现并发测试需要的先决条件,阐述了应用并发测试方法的实现流程,并给出了应用并发测试方法节省测试时间的实例.
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| 关 键 词： | 半导体测试 测试时间 并发测试 |
Concurrent Test-a New Way of Time-cost-saving Test on Semiconductor |
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| LING Yi-chun. Concurrent Test-a New Way of Time-cost-saving Test on Semiconductor[J]. , 2011, 0(15) |
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| Authors: | LING Yi-chun |
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