|
|||||
|
|
| 用于微波测量的双相位调制技术 | |
| 引用本文： | 冯清澄.用于微波测量的双相位调制技术[J].国际商务研究,1985(5). |
| 作者姓名： | 冯清澄 |
| 作者单位： | 电子部第十研究所 工程师 |
| 摘 要： | 目前在精密微波衰减测量中,出现了一种双相位调制新技术。它使以前的调制副载波方法得到新的突破,从而导致一种自动精密衰减测量系统。本文分析双相位调制技术的基本原理,介绍一个按这种技术设计的自动精密衰减测量系统。 |
| 关 键 词： | 微波衰减 调制副载波方法 双相位调制技术 |
| 点击此处可从《国际商务研究》浏览原始摘要信息 | |
| 点击此处可从《国际商务研究》下载免费的PDF全文 | |