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| 整机所开展电子器件现场失效分析的意义 | |
| 引用本文： | 杞居意.整机所开展电子器件现场失效分析的意义[J].国际商务研究,1987(2). |
| 作者姓名： | 杞居意 |
| 作者单位： | 电子部第十研究所 工程师 |
| 摘 要： | 本文论述了在我国目前现有器件水平条件下,整机研究所根据实际需要,利用现有设备对整机可靠性影响较大的重点器件进行一些力所能及的现场失效分析的重要意义,金相学在电子器件失效分析中的应用.通过对3DK7、3DD102D、YS1000A1.Cμs、GVF等器件现场失效分析实例说明,不仅能解决我所科研生产中的一些实际问题,而且把这些现场失效资料反馈回有关元器件厂后也有利于提高元器件的质量. |
| 关 键 词： | 可靠性 现场失效分析 |
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