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基于机器视觉的IC芯片外观检测系统分析
作者姓名:英玉
作者单位:辽宁经济职业技术学院
摘    要:介绍机器视觉系统的组成、工作流程、起源、领域、现状与发展方向,分析IC芯片的外观质量检测项目和3种检测方法的优缺点、机器视觉技术检测IC芯片外观的3种产品缺陷。分析IC芯片的外观特征,介绍IC芯片外观的机器视觉检测系统的总体流程、硬件结构、软件模块、标定与检测算法。

关 键 词:机器视觉  IC芯片  外观检测
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