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数字集成电路参数测试仪的设计及实现
引用本文:张建国.数字集成电路参数测试仪的设计及实现[J].电子商务,2010(7):59-60.
作者姓名:张建国
作者单位:漳州职业技术学院电子工程系
摘    要:本文论述了以AT89C52单片机为核心设计的一种数字集成电路参数的测试仪器。利用单片机的数学运算和控制功能,并通过8279键盘控制来实现测量中的量程自动切换,及各路测试项目的参数显示。实践结果表明,该测试仪器是一种性能实用、操作简单、成本低廉的优秀测试仪器,完全可以满足测试要求。

关 键 词:单片机  数字集成电路  参数测试仪
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