首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

计算机图形学反走样技术的探索与应用
作者姓名:王荣林  陈文飞
作者单位:反走样;加权;TrueType字体
摘    要:通过分析反走样技术的原理,结合实际,完整地给出了反走样技术处理直线,曲线和TrueType字的解决方案。

关 键 词:中国地质大学汉口分校  湖北武汉430030  
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《科技进步与对策》浏览原始摘要信息
点击此处可从《科技进步与对策》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号