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| 光波干涉法在检定中的应用 | |
| 引用本文： | 荆兆东,白凤民.光波干涉法在检定中的应用[J].企业标准化,2010(8):16-16. |
| 作者姓名： | 荆兆东 白凤民 |
| 作者单位： | 抚顺市计量测试所 |
| 摘 要： | 1、技术光波干涉法的基本概念
满足一定条件的两列光波相遇时互相迭加,在相遇区域内产生明暗相间的条纹,这种现象叫干涉现象;这两束光被称为相干光,这些条纹称为干涉条纹或干涉带.运用光干涉原理进行计量检定的方法,叫作技术光波干涉法. |
| 关 键 词： | 干涉条纹 计量检定 平面度 干涉现象 暗条纹 光干涉原理 工件表面 干涉带 平晶 光波干涉法 |
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