SPC管理在半导体生产中的有效运用

SPC(Statistical Process Control,统计过程控制)起源于20世纪20年代以美国统计学者休哈特(W.A.Shewhart)首创过程控制理论及监控过程控制的工具——控制图为代表,现今统称为SPC,其重要意义与作用旨在贯彻预防原则,利用统计技术对过程中的各个阶段进行监控,从而达到保证产品质量的目的。由于历史原因,SPC在我国企业的质量管理中未曾得到广泛的采用。本文介绍了某企业SPC应用的方法和经验,具有启发和借鉴的价值。